{ "slug": "inspection-methods", "title": "CNC検査方法の比較：CMM・NDT・PMI", "description": "十七の測定・NDT方法を、幾何学的能力、精度、コスト階層、サイクルタイム、資格の観点で比較し、CMMとUTの計算例とそれぞれの適用上限を掲載します。", "lang": "ja", "tables": [ { "caption": "検査方法の比較（17の方法、コスト階層は編集部評価）", "columns": [ "方法", "測定対象（GD&T範囲）", "精度／範囲", "コスト階層", "部品あたりサイクル", "破壊的？", "作業者資格", "検出内容", "規格", "出典" ], "rows": [ { "方法": "CMM, bridge (touch-trigger / scanning)", "測定対象（GD&T範囲）": "寸法、位置、平面度、円度、直角度、平行度、同心度、輪郭度 — 全3D GD&T", "精度／範囲": "MPE ±(1.7–2.5 + L/250–300) µm; high-end ±(0.6 + L/1000) µm; to ~1 m class", "コスト階層": "5", "部品あたりサイクル": "3–15 min", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "ISO 10360校正報告書＋GD&Tを理解した測定者", "検出内容": "あらゆる幾何偏差；プロービングでは内部空洞を検出できない", "規格": "ISO 10360-2; ASME B89.4.1", "出典": "S1–S5" }, { "方法": "Blue-light / laser 3D scanning", "測定対象（GD&T範囲）": "表面輪郭度、3Dベストフィット、全視野偏差マップ", "精度／範囲": "point 0.017–0.05 mm; volumetric 0.02–0.1 mm", "コスト階層": "4", "部品あたりサイクル": "1–4 min (scan + align)", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "中程度；メッシュ／アライメントの技能", "検出内容": "全面の形状偏差；視線制約によりアンダーカットは不可、内部空洞には到達できない", "規格": "VDI/VDE 2634 Part 3", "出典": "S9, S10" }, { "方法": "Profile projector (optical comparator)", "測定対象（GD&T範囲）": "2D輪郭、半径、角度、ピッチ、2D真位置、エッジ", "精度／範囲": "±(1.5–2.5 + L/100) µm; magnification ±0.1%; stage 203 × 102 mm typ.", "コスト階層": "2", "部品あたりサイクル": "15 s–2 min", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "低い；視差／エッジの訓練", "検出内容": "2D輪郭偏差、バリ、ねじ山形状；深さや粗さは不可", "規格": "Mitutoyo PJ/PH specs", "出典": "S6–S8" }, { "方法": "Vision measuring machine (VMM)", "測定対象（GD&T範囲）": "2D寸法、位置、小さい形状、多数の形状", "精度／範囲": "±(0.8–1.5) µm", "コスト階層": "3", "部品あたりサイクル": "10–60 s auto", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "低–中程度；一度プログラムして作業者が実行", "検出内容": "小型・平板部品の2D形状；エッジで定義される形状", "規格": "Mitutoyo QV specs", "出典": "S6" }, { "方法": "Calipers", "測定対象（GD&T範囲）": "リニア寸法（外径／内径／深さ／段差）の簡易確認", "精度／範囲": "±0.02–0.04 mm", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "seconds", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "不要（現場で広く普及）", "検出内容": "粗い寸法誤差；GD&Tには不適", "規格": "ISO 13385-1 class", "出典": "S6" }, { "方法": "Outside micrometer", "測定対象（GD&T範囲）": "直径、厚さ", "精度／範囲": "±0.001–0.003 mm", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "seconds", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "低い", "検出内容": "直径／厚さの偏差；ラップ仕上げ面が必要", "規格": "ISO 3611", "出典": "S6" }, { "方法": "Height gauge on surface plate", "測定対象（GD&T範囲）": "高さ段差、1D比較測定、けがき", "精度／範囲": "±0.003–0.008 mm", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "< 1 min", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "低い", "検出内容": "高さ／段差誤差；レバー付属具で振れ", "規格": "Mitutoyo indicator class", "出典": "S6" }, { "方法": "Surface roughness tester (Ra/Rz stylus)", "測定対象（GD&T範囲）": "ISO 4287に基づくRa、Rz、Rt", "精度／範囲": "±0.5–2% of reading; resolution 0.001 µm; a 2 µm tip cannot resolve features below about 4 µm", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "30 s per trace", "破壊的？": "接触するが損傷なし", "作業者資格": "低い；カットオフ／フィルタの訓練", "検出内容": "表面性状の偏差；形状は不可", "規格": "ISO 4287; JIS B 0601", "出典": "S6" }, { "方法": "Hardness — Rockwell (HRB/HRC)", "測定対象（GD&T範囲）": "母材硬さ（強度／熱処理の代替指標）", "精度／範囲": "±0.5 HRC bench class; loads 60/100/150 kgf", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "< 1 min per indent", "破壊的？": "小さな圧痕が残る（外観面には準破壊的）", "作業者資格": "低い；ASTM E18手順の訓練", "検出内容": "熱処理条件の誤り；軟化部；浸炭層の欠落", "規格": "ASTM E18 / ISO 6508", "出典": "S15, S16" }, { "方法": "Hardness — Brinell (HB)", "測定対象（GD&T範囲）": "粗い・大型部品の母材硬さ", "精度／範囲": "10 mm WC ball, 500/3000 kgf, 15 s; best on castings/forgings", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "about 1 min", "破壊的？": "目視できる圧痕（HRCより大きい）", "作業者資格": "低い", "検出内容": "期待されるHBに対する鋼種の混同；調質（Q&T）状態", "規格": "ASTM E10 / ISO 6506", "出典": "S15, S16" }, { "方法": "Hardness — Vickers/Knoop micro (HV/HK)", "測定対象（GD&T範囲）": "浸炭深さ（CHD）、薄肉部、皮膜断面", "精度／範囲": "loads 10 gf–10 kgf; lab method", "コスト階層": "2", "部品あたりサイクル": "sample-prep dependent (minutes)", "破壊的？": "切断＋研磨断面 — 部品に対して破壊的", "作業者資格": "中程度（金属組織の前処理）", "検出内容": "浸炭深さの規格逸脱；脱炭", "規格": "ASTM E92/E384; ISO 6507", "出典": "S15, S16" }, { "方法": "Ultrasonic testing (UT, incl. PAUT/TOFD)", "測定対象（GD&T範囲）": "内部欠陥、肉厚、融合不良", "精度／範囲": "1–5 MHz; penetration 100–300 mm; TOFD depth ±0.5 mm on 25 mm wall; finds tight cracks < 0.1 mm", "コスト階層": "3", "部品あたりサイクル": "minutes per weld/joint", "破壊的？": "なし", "作業者資格": "SNT-TC-1A／CP-189／ISO 9712に基づくASNT Level II", "検出内容": "内部きず、空洞、LOF、介在物、肉厚減少", "規格": "ASTM E428/E317; EN 1714; ASME Sec V; AMS 2632", "出典": "S11, S12" }, { "方法": "Magnetic particle testing (MT)", "測定対象（GD&T範囲）": "強磁性部品の表面および表層近傍のきず", "精度／範囲": "cracks below the 1.6 mm class band (A903 MT column); dry/wet, visible/fluorescent", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "minutes", "破壊的？": "なし（脱磁／洗浄が必要な場合あり）", "作業者資格": "ASNT Level I/II；航空宇宙はNAS 410", "検出内容": "研削きず、疲労きず、焼割れ；シーム", "規格": "ASTM E709; E1444 (aero); ISO 9934", "出典": "S13, S14, S24" }, { "方法": "Liquid penetrant testing (PT)", "測定対象（GD&T範囲）": "表面に開口したきず、非鉄を含むあらゆる材料", "精度／範囲": "pairs with MT on castings (MT below 1.6 mm, PT complementary); fluorescent more sensitive than visible", "コスト階層": "1", "部品あたりサイクル": "15–60 min (dwell incl.)", "破壊的？": "なし（残留物は洗浄可能）", "作業者資格": "ASNT Level I/II", "検出内容": "表面きず、ポロシティ開口部、ラップ — アルミニウムやオーステナイト系ステンレスを含む", "規格": "ASTM E165/E1417", "出典": "S14" }, { "方法": "Radiographic testing (RT / X-ray)", "測定対象（GD&T範囲）": "内部空洞、ポロシティ、介在物、溶込み", "精度／範囲": "volume defects by density contrast; thickness limit set by energy (typ. ≤ 100 mm steel; Co-60/linac beyond)", "コスト階層": "4", "部品あたりサイクル": "10–30 min per exposure", "破壊的？": "なし（放射線は作業者への危険であり、部品には無害）", "作業者資格": "ASNT Level II；放射線安全の資格（拠点による）", "検出内容": "ポロシティ、引け、スラグ、LOF（面状欠陥は角度依存）", "規格": "ASTM E94; EN 17635; ASME Sec V", "出典": "S11" }, { "方法": "Salt-spray cabinet (NSS)", "測定対象（GD&T範囲）": "皮膜の耐食性", "精度／範囲": "5% NaCl, 35 °C per ASTM B117 / ISO 9227; screening only", "コスト階層": "2", "部品あたりサイクル": "24–1000+ h cabinet (parallel batch)", "破壊的？": "試験片については「あり」（曝露により仕上げが劣化）", "作業者資格": "低い；試験槽の操作", "検出内容": "皮膜の異常：白錆／赤錆の発生、ふくれ、クリープ", "規格": "ASTM B117; ISO 9227", "出典": "batch1 T3 table (caliber cross-reference)" }, { "方法": "PMI — OES spark / XRF / helium leak test", "測定対象（GD&T範囲）": "化学成分（OESはCを含む全元素、XRFはC不可）；気密性", "精度／範囲": "OES 0.01% class (carbon weak — LECO combustion better); XRF portable non-destructive; helium MSD 5×10⁻¹²–5×10⁻¹³ Pa·m³/s, response < 1 s", "コスト階層": "OES/XRF 2; helium 3", "部品あたりサイクル": "OES/XRF seconds; helium minutes", "破壊的？": "OESはスパーク痕を残す（軽微）；XRFとヘリウムは非破壊", "作業者資格": "OES/XRF装置の訓練＋PMI手順；ヘリウム真空の訓練", "検出内容": "鋼種の混同、受入化学成分の規格逸脱、漏れ率の上限超過", "規格": "ASTM E415/E1086/E572; API RP 578; helium: vendor nameplate", "出典": "S20–S23" } ] }, { "caption": "±0.02 mmの位置指示を検証するには、どのCMM精度が必要ですか？", "columns": [ "検査目的", "主要方法", "簡易スクリーニング", "使用不可／無効", "精度の基準値" ], "rows": [ { "検査目的": "Size + full GD&T (position/profile/flatness)", "主要方法": "CMM", "簡易スクリーニング": "blue-light scan (full profile fields)", "使用不可／無効": "ノギスではGD&Tを評価できない", "精度の基準値": "MPE ±(1.7 + L/300) µm" }, { "検査目的": "Small 2D profile / thin deformable parts", "主要方法": "projector / VMM", "簡易スクリーニング": "—", "使用不可／無効": "接触プローブは薄肉を変形させる", "精度の基準値": "±(1.5 + L/100) µm" }, { "検査目的": "Surface roughness Ra/Rz", "主要方法": "stylus roughness tester", "簡易スクリーニング": "—", "使用不可／無効": "CMMと投影機では粗さを測定できない", "精度の基準値": "±0.5–2% of reading" }, { "検査目的": "Heat-treat condition check", "主要方法": "Rockwell HRC (batch sampling)", "簡易スクリーニング": "Brinell (rough large parts)", "使用不可／無効": "硬さだけでは鋼種を特定できない", "精度の基準値": "±0.5 HRC" }, { "検査目的": "Case depth (carburized/nitrided)", "主要方法": "Vickers micro section", "簡易スクリーニング": "—", "使用不可／無効": "マクロ硬さ（HRC/HB）では層を確認できない", "精度の基準値": "CHD per ISO 2639" }, { "検査目的": "Internal flaws (cracks/voids/LOF)", "主要方法": "UT incl. PAUT/TOFD", "簡易スクリーニング": "RT (best on volume defects)", "使用不可／無効": "MT/PTは表面開口のみを検出", "精度の基準値": "TOFD depth ±0.5 mm per 25 mm" }, { "検査目的": "Surface cracks (ferromagnetic)", "主要方法": "MT", "簡易スクリーニング": "PT (only option for non-ferromagnetic)", "使用不可／無効": "UTは近距離音場が表面を覆う", "精度の基準値": "MT below the 1.6 mm class" }, { "検査目的": "Coating corrosion comparison", "主要方法": "NSS salt spray", "簡易スクリーニング": "—", "使用不可／無効": "試験槽の時間 ≠ 屋外寿命（ISO 10683）", "精度の基準値": "endpoint must state white vs red rust" }, { "検査目的": "Grade / mix-up verification (incoming)", "主要方法": "OES (carbon matters) or XRF (no carbon)", "簡易スクリーニング": "spark test (shop qualitative)", "使用不可／無効": "XRFは炭素を検出できない — 304と304Lを区別できない", "精度の基準値": "OES 0.01% class" }, { "検査目的": "Hermeticity", "主要方法": "helium mass spectrometry", "簡易スクリーニング": "pressure decay (coarse leaks)", "使用不可／無効": "バブル法は大きな漏れの位置特定のみ", "精度の基準値": "5×10⁻¹² Pa·m³/s class" } ] }, { "caption": "ノギスでGD&Tの真位置を検査できますか？", "columns": [ "手工具", "精度", "実際に測定できる範囲" ], "rows": [ { "手工具": "Calipers", "精度": "±0.02–0.04 mm", "実際に測定できる範囲": "外径／内径／深さ／段差のリニア簡易確認 — GD&Tは不可" }, { "手工具": "Outside micrometer", "精度": "±0.001–0.003 mm", "実際に測定できる範囲": "直径と厚さ" }, { "手工具": "Height gauge", "精度": "±0.003–0.008 mm", "実際に測定できる範囲": "高さ段差；レバー付属具で振れ" }, { "手工具": "Stylus roughness tester", "精度": "±0.5–2% of reading", "実際に測定できる範囲": "Ra/Rzのみ — 形状や寸法は不可" } ] }, { "caption": "フルFAIのCMM検査は部品あたりどのくらい時間がかかりますか？", "columns": [ "時間／コストの基準値", "値", "ステータス" ], "rows": [ { "時間／コストの基準値": "Bridge CMM cycle", "値": "3–15 min per part", "ステータス": "公開範囲" }, { "時間／コストの基準値": "Landing-gear bushing case: 7 radii R0.15 ± 0.02 + stepped bore", "値": "14 min per part", "ステータス": "出典の事例" }, { "時間／コストの基準値": "Projector pre-screen", "値": "under 90 s per part", "ステータス": "公開値" }, { "時間／コストの基準値": "CMM queue-time reduction from pre-screening", "値": "scheduling-dependent (editorial estimate)", "ステータス": "出典の数値なし — 出典のない主張を意図的に置き換え" }, { "時間／コストの基準値": "CMM equipment anchor", "値": "$215K class", "ステータス": "TCO表" }, { "時間／コストの基準値": "Scanner equipment anchor", "値": "$142K class", "ステータス": "TCO表" }, { "時間／コストの基準値": "Projector equipment anchor", "値": "$48.5K class", "ステータス": "TCO表" } ] }, { "caption": "GD&Tの承認に、ブルーライトスキャンでCMMを代替できますか？", "columns": [ "スキャナクラス", "公称精度", "備考" ], "rows": [ { "スキャナクラス": "GOM Scan 1", "公称精度": "0.017 mm single point", "備考": "VDI/VDE 2634 Part 3の計測規格" }, { "スキャナクラス": "ATOS Q", "公称精度": "0.02 mm class", "備考": "現世代の定格値" }, { "スキャナクラス": "Handheld laser", "公称精度": "0.02 mm class", "備考": "輸入産業グレード" }, { "スキャナクラス": "ATOS (2010 lab data)", "公称精度": "0.002–0.02 mm, single frame 1 s", "備考": "旧世代の広帯域値を参考として保持" } ] }, { "caption": "現場のロックウェル試験はどのくらい正確ですか？", "columns": [ "方法", "役割分担", "規格" ], "rows": [ { "方法": "Rockwell (HRB/HRC)", "役割分担": "熱処理部品のロット硬さ検証", "規格": "ASTM E18 / ISO 6508" }, { "方法": "Brinell (HB)", "役割分担": "粗い大型部品：鋳物や鍛造品", "規格": "ASTM E10 / ISO 6506" }, { "方法": "Vickers/Knoop micro (HV/HK)", "役割分担": "浸炭深さ（CHD）、薄肉部、皮膜 — 破壊断面", "規格": "ASTM E92/E384 / ISO 6507" } ] }, { "caption": "超音波探傷でどの深さまで亀裂を検出できますか？", "columns": [ "パラメータ", "値", "出典" ], "rows": [ { "パラメータ": "Frequency band", "値": "1–5 MHz conventional", "出典": "S11" }, { "パラメータ": "Penetration in steel", "値": "100–300 mm", "出典": "S11" }, { "パラメータ": "TOFD depth sizing", "値": "±0.5 mm on a 25 mm wall", "出典": "S11" }, { "パラメータ": "Tight crack detection", "値": "below 0.1 mm", "出典": "S11" }, { "パラメータ": "Thin-material spec", "値": "0.5–12.7 mm at 2.0–10.0 MHz", "出典": "S12" }, { "パラメータ": "Wall-thickness formula", "値": "5,850 m/s × 3.4 µs ÷ 2 = 9.94 mm", "出典": "S11" }, { "パラメータ": "Qualification", "値": "ASNT Level II (SNT-TC-1A / CP-189 / ISO 9712)", "出典": "S24" } ] }, { "caption": "なぜバイヤーはアルミブラケットの磁粉探傷を拒否したのですか？", "columns": [ "方法", "適用範囲", "出典" ], "rows": [ { "方法": "MT", "適用範囲": "強磁性部品；1.6 mmクラスの帯域未満のきずを検出", "出典": "S13, S14" }, { "方法": "PT", "適用範囲": "あらゆる材料；鋳物では1.6 mm超に対して補完的 — 対立ではなく役割分担", "出典": "S14" } ] }, { "caption": "XRFは受入材料について何を検証できますか？", "columns": [ "PMIツール", "長所", "限界" ], "rows": [ { "PMIツール": "XRF", "長所": "携帯型、非破壊、読み取りあたり数秒", "限界": "炭素を検出できない" }, { "PMIツール": "Spark OES", "長所": "0.01%クラスで炭素を含む全元素", "限界": "小さなスパーク痕を残す；ベンチ型装置" }, { "PMIツール": "LIBS", "長所": "ハンディ型；迅速スクリーニング", "限界": "認証用途ではOESより精度が低い" }, { "PMIツール": "Carbon (LEEC combustion)", "長所": "OESが限界のとき炭素を正確に測定", "限界": "試料を破壊" }, { "PMIツール": "Helium MSD leak test", "長所": "5×10⁻¹²–5×10⁻¹³ Pa·m³/s、応答1 s未満", "限界": "銘板の感度であり、方法の保証ではない" } ] }, { "caption": "ヘリウム漏れ試験の感度はどのくらいですか？", "columns": [ "水準", "感度", "読み方" ], "rows": [ { "水準": "Instrument nameplate (MSD)", "感度": "5×10⁻¹²–5×10⁻¹³ Pa·m³/s, response < 1 s", "読み方": "ベンダーのハイエンドクラス（S22、UGC由来；銘板値として記録）" }, { "水準": "Conservative method-level", "感度": "10⁻⁹ Pa·m³/s order", "読み方": "S23；検出器ではなく装置全体を表す場合がある" }, { "水準": "Pressure decay / bubble", "感度": "orders of magnitude coarser", "読み方": "容積と温度に依存；固定の下限なし（申告された欠測）" } ] }, { "caption": "塩水噴霧時間は屋外寿命を証明しますか？", "columns": [ "パラメータ", "値" ], "rows": [ { "パラメータ": "Electrolyte", "値": "5% NaCl solution" }, { "パラメータ": "Cabinet temperature", "値": "35 °C" }, { "パラメータ": "Solution pH", "値": "6.5–7.2" }, { "パラメータ": "Collection rate", "値": "1–2 mL per 80 cm² per hour" }, { "パラメータ": "Meaning", "値": "screening comparison — not outdoor service life" } ] }, { "caption": "サプライヤーの検査能力を証明する報告書は何ですか？", "columns": [ "シナリオ", "寸法の証拠", "材料／工程の証拠", "成果物" ], "rows": [ { "シナリオ": "AS9102 full FAI (new part number)", "寸法の証拠": "全特性のCMM報告書＋バルーニング図面（Form 3）", "材料／工程の証拠": "MTR/CoC＋HT／めっき／NDT証明書（Form 2）", "成果物": "Form 1＋2＋3＋バルーニング図面" }, { "シナリオ": "AS9102 delta FAI (revision / machine / supplier change)", "寸法の証拠": "影響を受ける特性のみ再試験", "材料／工程の証拠": "変更された工程のみの証明書", "成果物": "元のFAIRを参照するデルタForm 3" }, { "シナリオ": "PPAP Level 3 (automotive)", "寸法の証拠": "寸法報告書＋MSA／ゲージR&R", "材料／工程の証拠": "材料／性能試験報告書", "成果物": "PSW＋18項目パッケージ、重要特性でCpk ≥ 1.67" }, { "シナリオ": "Buyer capability audit", "寸法の証拠": "年次のISO 10360 CMM校正証明書＋17025にトレーサブルなゲージリスト", "材料／工程の証拠": "ASNT Level II証明書＋承認済み特殊工程のベンダー", "成果物": "一つのパッケージで大半の監査に対応" } ] }, { "caption": "部品に再度フルFAIが必要になるのはいつですか？", "columns": [ "トリガー", "FAI範囲" ], "rows": [ { "トリガー": "New part number", "FAI範囲": "フルFAI" }, { "トリガー": "Design change affecting fit, form or function", "FAI範囲": "フルFAI（または合意によるデルタ）" }, { "トリガー": "Process or supplier change", "FAI範囲": "影響特性に対するデルタFAI" }, { "トリガー": "Production lapse over two years", "FAI範囲": "AS9102 Rev Cに基づくフルまたはデルタFAI — どちらかを顧客と確認してください" }, { "トリガー": "Revision", "FAI範囲": "AS9102 Rev C、2023-06に発行" } ] }, { "caption": "Ø0.05に対して0.092 mmの穴位置の読み取りは本当に公差外ですか？", "columns": [ "ステップ", "項目", "値", "備考" ], "rows": [ { "ステップ": "1", "項目": "CMM MPE at L = 200 mm", "値": "±(1.9 + 200/300) ≈ ±2.57 µm", "備考": "Zeiss Conturaクラスの仕様（S4/S5）" }, { "ステップ": "2", "項目": "Combined standard uncertainty u_c (k=1)", "値": "√(6² + 4² + 5² + 3²) = √86 ≈ 9.3 µm", "備考": "プローブ6＋スケール4＋熱5＋セットアップ3、二乗和平方根（S3の内訳、値はµm）" }, { "ステップ": "3", "項目": "Expanded uncertainty U (k=2)", "値": "≈ ±0.018 mm", "備考": "2 × u_c、出典自身のU(k=2) = ±0.018 mmの水準による" }, { "ステップ": "4", "項目": "Verdict", "値": "0.092 − 0.018 = 0.074 mm > 0.025 mm", "備考": "公差外は両水準のいずれでも成立 — 議論が意味を持つのは境界近傍のみ（ISO 14253-1）" }, { "ステップ": "5", "項目": "Fitting requirement", "値": "≥ 16 points, least-squares cylinder; 3-point method amplifies 4.3×", "備考": "S3の検証実務" } ] }, { "caption": "Ø120 mmの4140調質軸に内部亀裂がないことをどう証明しますか？", "columns": [ "ステップ", "項目", "値" ], "rows": [ { "ステップ": "1", "項目": "Method elimination", "値": "MT/PT surface-only; RT needs high energy, insensitive to planar flaws" }, { "ステップ": "2", "項目": "Frequency selection", "値": "2–5 MHz (fine-grained forging); 0.5–12.7 mm thin stock per AMS 2632 at 2.0–10.0 MHz" }, { "ステップ": "3", "項目": "Wall-thickness check", "値": "5,850 m/s × 3.4 µs ÷ 2 = 9.94 mm" }, { "ステップ": "4", "項目": "Acceptance caliber", "値": "crack-like (planar) indications evaluated per ASME Sec V; pressure-boundary forgings typically zero tolerance" }, { "ステップ": "5", "項目": "Personnel", "値": "ASNT Level II; report bound to the day's calibration status" } ] } ] }